SEM : Structural Equation Modeling

โมเดลสมการโครงสร้าง

     การวิเคราะห์สมการโครงสร้าง เป็นการวิเคราะห์ความสัมพันธ์ระหว่างตัวแปรอิสระหลายตัวและตัวแปรตามหลายตัวในคราวเดียวกัน โดยที่ในโมเดลจะประกอบด้วยตัวแปรสังเกตได้ (observed variable) ที่มี 2 ชุด คือ ชุดตัวแปร x ที่เป็นตัวแปรแฝงภายนอก (exogenous variable) ที่อ่านว่า ksi และชุดตัวแปร y ของตัวแปรแฝงภายใน (endogenous variable) ที่อ่านว่า eta และอีกตัวแปรหนึ่งคือตัวแปรแฝง (latent variable) มีด้วยกัน 2 ชุด ได้แก่ ตัวแปรแฝงภายนอก และ ตัวแปรแฝงภายใน

     ในโครงสร้างของโมเดลจะประกอบด้วยโมเดลย่อย 2 โมเดล ได้แก่

1) Measurement Model : โมเดลการวัด ซึ่งเป็นโมเดลที่ระบุความสัมพันธ์เชิงเส้นระหว่างตัวแปรแฝง (latent variable) กับตัวแปรสังเกตได้ ซึ่งโมเดลการวัดนี้ประกอบด้วย 2 ชนิดได้แก่  (1)โมเดลการวัดสำหรับตัวแฝงภายนอก (2)โมเดลการวัดสำหรับตัวแฝงภายใน

2) โมเดลโครงสร้างซึ่งเป็นโมเดลที่ระบุความสัมพันธ์หรือตัวแปรแฝงที่เป็นตัวแปรอิสระ (exogenous variable) กับตัวแปรแฝงที่เป็นตัวแปรตาม (endogenous variable)

     ในการวิเคราะห์ ผู้วิเคราะห์จะต้องระบุลักษณะของโมเดล (model identification) โดยการคำนวณจะเริ่มต้นจากเมทริกซ์สหสัมพันธ์ระหว่างตัวแปรที่สังเกตได้ (observed variable) ก่อน เพื่อให้ได้ค่าพารามิเตอร์ที่มีค่าเดียวของโมเดลในโครงสร้างโมเดลที่สร้างขึ้น เพื่อแก้สมการทั้งหมดในคราวเดียวกัน ซึ่งผู้วิเคราะห์จะต้องใช้ข้อมูลเป็นจำนวนมาก หรือมีข้อมูลมากพอที่จะวิเคราะห์สมการโครงสร้างได้อย่างถูกต้องและต้องมีค่าเดียวหรือคำตอบเดียว ข้อมูลที่ตรวจสอบนี้ในการตรวจสอบค่าสหสัมพันธ์ระหว่างตัวแปรที่สังเกตได้ที่อยู่ในรูปเมทริกซ์ บางครั้งเรียกว่า เมทริกซ์ความแปรปรวนและความแปรปรวนร่วม ซึ่งหากสมาชิกในแมทริกซ์มีน้อยกว่าจำนวนพารามิเตอร์จะทำให้เกิดปัญหา คือ ค่าพารามิเตอร์ที่ประมาณค่าได้ไม่คงที่ หรือได้ค่าที่เป็นไปไม่ได้

      การระบุลักษณะโมเดลการวัดจะมีด้วยกัน 3 ลักษณะ ได้แก่

1) โมเดลที่เป็นแบบ under identification

2) โมเดลที่เป็นแบบ just identification

3) โมเดลที่เป็นแบบ over identification

     ในการวิเคราะห์เพื่อตรวจสอบว่าโมเดลมีข้อมูลมากพอที่จะทำให้การประมาณค่าถูกต้องและมีค่าเดียวแล้ว ต่อไปจึงวิเคราะห์เพื่อตรวจสอบความสอดคล้องของโมเดล โมเดลที่ต้องการตรวจสอบที่ว่านี้ ตรวจสอบโมเดลที่ผู้วิจัยส้างขึ้นจะมีความสอดคล้องกับข้อมูลเชิงประจักษ์ที่เก็บรวบรวมมาหรือไม่ ถ้าสอดคล้องกันเรียกว่า model fit ครับ

ที่มา...ผศ.ดร.ยุทธ ไกยวรรณ์